日立TM4000Ⅱ掃描電鏡的低真空系統(tǒng)使得樣品不需任何處理即可快速進(jìn)行觀察。 TM4000Ⅱ優(yōu)化提供5kV、10kV、15kV、20KV四種不同電壓下的觀察模式，每種模式下電流4檔可調(diào)，并配備4分割背散射探測(cè)器，可采集四個(gè)不同方向的圖像信息，對(duì)樣品進(jìn)行多種模式成像。具有全新的SEM-MAP導(dǎo)航功能，同時(shí)，電鏡圖片可以報(bào)告形式導(dǎo)出。配備大型樣品倉，可容納*樣品直徑80mm，厚度50mm。
  TM4000PlusⅡ是在TM4000Ⅱ基礎(chǔ)上增加高靈敏度低真空二次電子探頭UVD，該探頭在低真空環(huán)境下具有很好的成像質(zhì)量。TM4000PlusⅡ可將二次電子圖像和背散射電子圖像疊加并實(shí)時(shí)進(jìn)行顯示，獲得*多的樣品信息。TM4000PlusⅡ可以選配Multi Zigzag功能，可實(shí)現(xiàn)大范圍自動(dòng)連續(xù)拍照和自動(dòng)拼圖功能。

主要參數(shù)：

1. 觀察條件:5kV/10kV/15kV/20kV（均四檔可調(diào)）、EDX
2. 放大倍率：10×~100000×
3. 觀察模式：導(dǎo)體、標(biāo)準(zhǔn)模式，消除電荷模式
4. 探測(cè)器：4分割背散射探測(cè)器、低真空二次電子探測(cè)器（TM4000Plus）

應(yīng)用領(lǐng)域：生命科學(xué)、材料科學(xué)、化學(xué)、電子制造、食品工業(yè)