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好貨供應(yīng)R-10000ND涂層測厚儀,關(guān)聯(lián)測定器,日本SANKO山高...

價格
電議

型號
R-10000ND

品牌
SANKO山高

所在地
暫無

更新時間
2024-09-27 14:28:22

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    好貨供應(yīng),R-10000ND涂層測厚儀,關(guān)聯(lián)測定器,日本SANKO山高,YUQIF 好貨供應(yīng),R-10000ND涂層測厚儀,關(guān)聯(lián)測定器,日本SANKO山高,YUQIF 好貨供應(yīng),R-10000ND涂層測厚儀,關(guān)聯(lián)測定器,日本SANKO山高,YUQIF 深圳市京都玉崎電子有限公司營業(yè)部: 銷售擔(dān)當(dāng):周先生 電話: QQ: 郵箱:zl@ktts.net

         

         山高(SANKO)電子研究所自1963年(昭和38年)創(chuàng)立以 來,為了滿足客戶的需求,我公司一直致力于膜厚計,檢針器,水分計,微孔檢測儀等檢測儀器的研發(fā),生產(chǎn)和銷售,并建立了完善的售后服務(wù)體制。

        主要產(chǎn)品:膜厚計,檢針器,水分計,針孔探知器,鐵片探知器,鋼筋探知器,金屬探知器,超聲波測厚儀,結(jié)露計,其它

        職    種:電子測量儀器,工業(yè)儀器的研發(fā)、制造和銷售

        測厚儀(thickness gauge )是用來測量材料及物體厚度的儀表。在工業(yè)生產(chǎn)中常用來連續(xù)或抽樣測量產(chǎn)品的厚度(如鋼板、鋼帶、薄膜、紙張、金屬箔片等材料)    

        膜厚測試儀,分為磁感應(yīng)鍍層測厚儀,電渦流鍍層測厚儀,熒光X射線儀鍍層測厚儀。采用磁感應(yīng)原理時,利用從測頭經(jīng)過非鐵磁覆層而流入鐵磁基體的磁通的大小,來測定覆層厚度。也可以測定與之對應(yīng)的磁阻的大小,來表示其覆層厚度。

    磁感應(yīng)測量原理/膜厚測試儀

        采用磁感應(yīng)原理時,利用從測頭經(jīng)過非鐵磁覆層而流入鐵磁基體的磁通的大小,來測定覆層厚度。也可以測定與之對應(yīng)的磁阻的大小,來表示其覆層厚度。覆層越厚,則磁阻越大,磁通越小。利用磁感應(yīng)原理的測厚儀,原則上可以有導(dǎo)磁基體上的非導(dǎo)磁覆層厚度。一般要求基材導(dǎo)磁率在500以上。如果覆層材料也有磁性,則要求與基材的導(dǎo)磁率之差足夠大(如鋼上鍍鎳)。當(dāng)軟芯上繞著線圈的測頭放在被測樣本上時,儀器自動輸出測試電流或測試信號。早期的產(chǎn)品采用指針式表頭,測量感應(yīng)電動勢的大小,儀器將該信號放大后來指示覆層厚度。近年來的電路設(shè)計引入穩(wěn)頻、鎖相、溫度補(bǔ)償?shù)鹊匦录夹g(shù),利用磁阻來調(diào)制測量信號。還采用設(shè)計的集成電路,引入微機(jī),使測量精度和重現(xiàn)性有了大幅度的提高(幾乎達(dá)一個數(shù)量級)?,F(xiàn)代的磁感應(yīng)測厚儀,分辨率達(dá)到0.1um,允許誤差達(dá)1%,量程達(dá)10mm。

        磁性原理測厚儀可應(yīng)用來測量鋼鐵表面的油漆層,瓷、搪瓷防護(hù)層,塑料、橡膠覆層,包括鎳鉻在內(nèi)的各種有色金屬電鍍層,以及化工石油待業(yè)的各種防腐涂層。

    電渦流測量原理/膜厚測試儀

        高頻交流信號在測頭線圈中產(chǎn)生電磁場,測頭靠近導(dǎo)體時,就在其中形成渦流。測頭離導(dǎo)電基體愈近,則渦流愈大,反射阻抗也愈大。這個反饋作用量表征了測頭與導(dǎo)電基體之間距離的大小,也就是導(dǎo)電基體上非導(dǎo)電覆層厚度的大小。由于這類測頭專門測量非鐵磁金屬基材上的覆層厚度,所以通常稱之為非磁性測頭。非磁性測頭采用高頻材料做線圈鐵芯,例如鉑鎳合金或其它新材料。與磁感應(yīng)原理比較,主要區(qū)別是測頭不同,信號的頻率不同,信號的大小、標(biāo)度關(guān)系不同。與磁感應(yīng)測厚儀一樣,渦流測厚儀也達(dá)到了分辨率0.1um,允許誤差1%,量程10mm的高水平。

        采用電渦流原理的測厚儀,原則上對所有導(dǎo)電體上的非導(dǎo)電體覆層均可測量,如航天航空器表面、車輛、家電、鋁合金門窗及其它鋁制品表面的漆,塑料涂層及陽極氧化膜。覆層材料有一定的導(dǎo)電性,通過校準(zhǔn)同樣也可測量,但要求兩者的導(dǎo)電率之比至少相差3-5倍(如銅上鍍鉻)。雖然鋼鐵基體亦為導(dǎo)電體,但這類任務(wù)還是采用磁性原理測量較為合適

    X射線衍射裝置(XRD)/膜厚測試儀

        簡單地說螢光X射線裝置(XRF)和X射線衍射裝置(XRD)有何不同,螢光X射線裝置(XRF)能得到某物質(zhì)中的元素信息(物質(zhì)構(gòu)成,組成和鍍層厚度),X射線衍射裝置(XRD)能得到某物質(zhì)中的結(jié)晶信息。

        具體地說,比如用不同的裝置測定食鹽(氯化鈉=NaCl)時,從螢光X射線裝置得到的信息為此物質(zhì)由鈉(Na)和氯(Cl)構(gòu)成,而從X射線衍射裝置得到的信息為此物質(zhì)由氯化鈉(NaCl)的結(jié)晶構(gòu)成。單純地看也許會認(rèn)為能知道結(jié)晶狀態(tài)的X射線衍射裝置(XRD為好,但當(dāng)測定含多種化合物的物質(zhì)時只用衍射裝置(XRD)就很難判定,必須先用螢光X射線裝置(XRF)得到元素信息后才能進(jìn)行定性。

    螢光X射線裝置(XRF)/膜厚測試儀 

        X射線的能量穿過金屬鍍層的同時,金屬元素其電子會反射其穩(wěn)定的能量波譜。通過這樣的原理,我們設(shè)計出:膜厚測試儀也可稱為膜厚測量儀,又稱金屬涂鍍層厚度測量儀,其不同之處為其即是薄膜厚度測試儀,也是薄膜表層金屬元素分析儀,因響應(yīng)全球環(huán)保工藝準(zhǔn)則,故目前市場上普遍使用的都是無損薄膜X射線熒光鍍層測厚儀。

    膜厚計、測定器

    膜厚計-電磁式,渦流式

    SWT-9000,SWT-9100,SWT-9200,SWT-9300,SAMAC-FN,SAMAC-Pro

    膜厚計-電磁式

    CTR-2000 III,TL-50,SM-Pen,SWT-9000F,SAMAC-F,SP-3300D,Pro-1,Pro-2,SL-120C,SL-200E

    膜厚計-渦流式

    SWT-9000N

    超聲波膜厚計

    ULT-5000,UDM-550V,SF-1150,

    探頭-電磁感應(yīng)式

    Fe-2.5,F(xiàn)e-2.5L,F(xiàn)e-2.5LwA,F(xiàn)e-10,F(xiàn)e-0.6,F(xiàn)e-20,F(xiàn)e-0.6Pen,SL-5P

    探頭-渦流式

    NFe-2.0,NFe-2.0L,NFe-0.6,NFe-8,F(xiàn)N-325

    膜厚計

    318/318S,

    SANKO山高粒度計232,

    表面鹽分計

    SNA-3000,

    光澤計

    SG-6,SG-268

    環(huán)境監(jiān)測計SE-250,SE-250D

    深圳市京都玉崎電子有限公司營業(yè)部:

    銷售擔(dān)當(dāng):周先生 

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    代理

    光源部:EYE巖崎、SEN日森、USHIO牛尾、REVOX萊寶克斯、CCS希希愛視、SERIC索萊克、TOPCON拓普康、NDK電色、ORIHARA折原、LUCEO魯機(jī)歐、FUNATECH船越龍、SAKAZUME坂詰電子、HIKARIYA光屋、KKIMAC、DNP大日本科研

    計測部:NEWKON新光、SANKO三高、SAKAGUCHI坂口電熱、OKANO岡野、ONOSOKKI小野、TOKYO DENSHOKU東京電色、NDK日本電色、MITUTOYO三豐、PEACOCK孔雀、KYOWA共和

    科儀部:EYELA東京理化、DRY-CABI德瑞卡比、T&D天特、ASKER高分子計器、KUSANO草野科學(xué)、IMV艾目微,AND愛安得、OBISHI大菱、TAKASAGO高砂、ASONE亞速旺、ELMEX安科生物、SAKURAI櫻井、NS日本精密科學(xué)、SONIC索尼克、SIBATA柴田、SANSYO三商、HEIDON新東

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