廣東卡尺計量校準機構/第三方計量校準機構
世通檢測長度實驗室主要負責長度計量工作,擁有豐富*工作經(jīng)驗、良好職業(yè)技能、敬業(yè)愛崗的計量人員。長度室配備了國內(nèi)*的測長機、大型工具顯微鏡、二次元、接觸式干涉儀、金屬線紋尺、光柵式水平儀器,直角尺儀、標準環(huán)規(guī)、標準球、標準圓柱角尺、標準多面棱體、電腦系統(tǒng)水平儀、百分表千分表儀、大尺寸量塊、量塊快速檢測儀、標準半球等各種儀器計量標準儀器百余種。
可提供儀器校準、儀器校正、儀器計量及維修服務的儀器設備種類有:
通用量具類:卡尺類、指示表類、千分尺類、角度規(guī)、水平儀、測厚儀、比較儀等。
測繪儀器類:工程質(zhì)量檢測尺、水準尺、經(jīng)緯儀、建筑工程標準器等。
精測量儀類:激光孔徑儀、光學計、投影儀、測長儀、顯微鏡、影像測量儀、二次元、接觸式干涉儀、圓度儀、坐標測量機(CMM、三次元)、數(shù)控機床、加工中心的檢測等。
量塊量規(guī):四等及以下量塊、步距規(guī)、標準針規(guī)、標準環(huán)規(guī)、光滑極限量規(guī)、半徑樣板、螺紋樣板等。
線紋:玻璃線紋尺、各種帶標尺放大鏡、鋼直尺、鋼卷尺、塑膠皮尺等。
平面度:水平儀、平板、平尺、平晶等。
粗糙度:粗糙度比較樣塊、粗糙度參數(shù)測試等。
螺紋類:各類公制(M)、美標(UN)、日標(J1S )、管螺紋(G)等螺紋規(guī)的檢測。
玩具輕工檢測類:小物件測試圓筒、搖鈴測試儀、曲繞測試儀、利邊測試儀、尖點測試器、奶嘴測試器、拉力鉗、壓力頭、測試手指等各種測試器。鞋業(yè)、紡織、自行車、模具、機加工琴部件等空間高精度尺寸的測量等。
概述
特點:符合阿貝原理、精度高、使用方便。阿貝原理:被測量線應與測量線相重合或在其延長線上。外徑千分尺的分度值一般為0.01mm和0.001mm,移動量為25mm。有測力裝置,保持恒定的測量力。分類和結構
數(shù)顯外徑千分尺
工作原理
運用螺旋副傳動原理,借助測微螺桿與螺母配合,將螺桿的回轉(zhuǎn)運動變?yōu)橹本€運動,從固定套管和微分筒上讀出長度尺寸。
讀數(shù)
讀數(shù)原理:微分筒讀數(shù)以固定套管的縱刻線為基準線,縱刻線上下有50個分度,每個分度為0.5mm。微分筒圓周刻有50個等分,測微螺桿的螺距為0.5mm, 微分筒旋轉(zhuǎn)一周。微分螺桿移動0.5mm,微分筒旋轉(zhuǎn)一個分度時(1/50轉(zhuǎn))測微螺桿移動0.01mm。
校準和技術要求
按現(xiàn)行有效版本JJG21-2008主要校準設備3、4等量塊(量塊)
平面平晶、平行平晶、刀口尺
測力儀1、外觀和各部分相互作用:目力觀察和手動試驗
2、測微螺桿的軸向竄動和徑向擺動:手感檢查
必要時使用杠桿千分尺檢查( 要求≤0.01mm)
3、測力:用分度值不大于0.2N的測力計
測力應為(5~10)N
4、微分筒錐面的端面棱邊至固定套管刻線面的距離:
用0.4mm的塞尺置于固定套管上比較測量( ≤ 0.4mm )
5、微分筒錐面的端面與固定套管毫米刻線的相對距離:
當測量下限調(diào)整正確后,讀取微分筒的零刻線與固定套管縱 向刻線右邊緣的偏移量
要求:壓線≤0.05mm 離線≤0.1mm
6、測量面的平面度:用平面平晶以技術光波干涉法
對于后續(xù)校準的可用刀口尺以光隙法
要求: 外徑千分尺 ≤0.6um
壁厚、板厚千分尺 ≤1.5um
數(shù)顯外徑千分尺≤0.3um
7、數(shù)顯外徑千分尺的示值重復性:
在相同條件下重復測量5次分別讀數(shù),以*與*小讀數(shù)差確定
要求: ≤1um
8、兩測量面的平行度:測量上限至100mm用平行平晶檢查,或可用量塊檢查。
采用量塊時,其4塊尺寸差為1/4螺距,每個量塊以其同一部位放入下圖所示的測量面間的4個位置上分別讀數(shù),以四組差值中*值來確定。
千分尺示值的*允許誤差及兩測量面的平行度
9、示值誤差:
外徑(壁厚、板厚)用5等量塊,數(shù)顯用4等量塊校準,或用千分尺量塊。
在測量范圍內(nèi)均勻分布5點放入量塊直接測量。
(A+5.12, A+10.24, A+15.36, A+21.50, A+25.00)
A—測量下限值
示值誤差要求見上表
10、數(shù)顯千分尺的細分誤差:在任意位置上,沿測量方向轉(zhuǎn)動微分筒,每間隔0.04mm檢查一次,共計12次,分別讀出各受檢點數(shù)顯值與微分筒讀數(shù)值之差,以其*差值確定。
要求≤±2um
11、校對用量桿(尺寸及變動量):
外徑:在光學計或測長機上用4等量塊以比較法
數(shù)顯:在光學計或測長機上用3等量塊以比較法
變動量:如圖所示5點中*與*小尺寸之差
千分尺校對用量桿的尺寸偏差和變動量
正確使用和注意事項
測量前應將測量面及被測件擦試干凈,等溫2H(20℃±5)千分尺的零位調(diào)整千分尺兩測量面與量塊接觸時,要使用測力裝置,不要轉(zhuǎn)動微分筒,以測力裝置的棘輪斷續(xù)響3聲讀數(shù)為準czy4583
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廣東卡尺計量校準機構/第三方計量校準機構
世通檢測長度實驗室主要負責長度計量工作,擁有豐富*工作經(jīng)驗、良好職業(yè)技能、敬業(yè)愛崗的計量人員。長度室配備了國內(nèi)*的測長機、大型工具顯微鏡、二次元、接觸式干涉儀、金屬線紋尺、光柵式水平儀器,直角尺儀、標準環(huán)規(guī)、標準球、標準圓柱角尺、標準多面棱體、電腦系統(tǒng)水平儀、百分表千分表儀、大尺寸量塊、量塊快速檢測儀、標準半球等各種儀器計量標準儀器百余種。
可提供儀器校準、儀器校正、儀器計量及維修服務的儀器設備種類有:
通用量具類:
卡尺類、指示表類、千分尺類、角度規(guī)、水平儀、測厚儀、比較儀等。
測繪儀器類:
工程質(zhì)量檢測尺、水準尺、經(jīng)緯儀、建筑工程標準器等。
精測量儀類:
激光孔徑儀、光學計、投影儀、測長儀、顯微鏡、影像測量儀、二次元、接觸式干涉儀、圓度儀、坐標測量機(CMM、三次元)、數(shù)控機床、加工中心的檢測等。
量塊量規(guī):
四等及以下量塊、步距規(guī)、標準針規(guī)、標準環(huán)規(guī)、光滑極限量規(guī)、半徑樣板、螺紋樣板等。
線紋:
玻璃線紋尺、各種帶標尺放大鏡、鋼直尺、鋼卷尺、塑膠皮尺等。
平面度:
水平儀、平板、平尺、平晶等。
粗糙度:
粗糙度比較樣塊、粗糙度參數(shù)測試等。
螺紋類:
各類公制(M)、美標(UN)、日標(J1S )、管螺紋(G)等螺紋規(guī)的檢測。
玩具輕工檢測類:
小物件測試圓筒、搖鈴測試儀、曲繞測試儀、利邊測試儀、尖點測試器、奶嘴測試器、拉力鉗、壓力頭、測試手指等各種測試器。鞋業(yè)、紡織、自行車、模具、機加工琴部件等空間高精度尺寸的測量等。
概述
特點:符合阿貝原理、精度高、使用方便。
阿貝原理:被測量線應與測量線相重合或在其延長線上。
外徑千分尺的分度值一般為0.01mm和0.001mm,移動量為25mm。
有測力裝置,保持恒定的測量力。
分類和結構
數(shù)顯外徑千分尺
工作原理
運用螺旋副傳動原理,借助測微螺桿與螺母配合,將螺桿的回轉(zhuǎn)運動變?yōu)橹本€運動,從固定套管和微分筒上讀出長度尺寸。
讀數(shù)
讀數(shù)原理:微分筒讀數(shù)以固定套管的縱刻線為基準線,縱刻線上下有50個分度,每個分度為0.5mm。微分筒圓周刻有50個等分,測微螺桿的螺距為0.5mm, 微分筒旋轉(zhuǎn)一周。微分螺桿移動0.5mm,微分筒旋轉(zhuǎn)一個分度時(1/50轉(zhuǎn))測微螺桿移動0.01mm。
校準和技術要求
按現(xiàn)行有效版本JJG21-2008
主要校準設備
3、4等量塊(量塊)
平面平晶、平行平晶、刀口尺
測力儀
1、外觀和各部分相互作用:目力觀察和手動試驗
2、測微螺桿的軸向竄動和徑向擺動:手感檢查
必要時使用杠桿千分尺檢查( 要求≤0.01mm)
3、測力:用分度值不大于0.2N的測力計
測力應為(5~10)N
4、微分筒錐面的端面棱邊至固定套管刻線面的距離:
用0.4mm的塞尺置于固定套管上比較測量( ≤ 0.4mm )
5、微分筒錐面的端面與固定套管毫米刻線的相對距離:
當測量下限調(diào)整正確后,讀取微分筒的零刻線與固定套管縱 向刻線右邊緣的偏移量
要求:壓線≤0.05mm 離線≤0.1mm
6、測量面的平面度:用平面平晶以技術光波干涉法
對于后續(xù)校準的可用刀口尺以光隙法
要求: 外徑千分尺 ≤0.6um
壁厚、板厚千分尺 ≤1.5um
數(shù)顯外徑千分尺≤0.3um
7、數(shù)顯外徑千分尺的示值重復性:
在相同條件下重復測量5次分別讀數(shù),以*與*小讀數(shù)差確定
要求: ≤1um
8、兩測量面的平行度:測量上限至100mm用平行平晶檢查,或可用量塊檢查。
采用量塊時,其4塊尺寸差為1/4螺距,每個量塊以其同一部位放入下圖所示的測量面間的4個位置上分別讀數(shù),以四組差值中*值來確定。
千分尺示值的*允許誤差及兩測量面的平行度
9、示值誤差:
外徑(壁厚、板厚)用5等量塊,數(shù)顯用4等量塊校準,或用千分尺量塊。
在測量范圍內(nèi)均勻分布5點放入量塊直接測量。
(A+5.12, A+10.24, A+15.36, A+21.50, A+25.00)
A—測量下限值
示值誤差要求見上表
10、數(shù)顯千分尺的細分誤差:在任意位置上,沿測量方向轉(zhuǎn)動微分筒,每間隔0.04mm檢查一次,共計12次,分別讀出各受檢點數(shù)顯值與微分筒讀數(shù)值之差,以其*差值確定。
要求≤±2um
11、校對用量桿(尺寸及變動量):
外徑:在光學計或測長機上用4等量塊以比較法
數(shù)顯:在光學計或測長機上用3等量塊以比較法
變動量:如圖所示5點中*與*小尺寸之差
千分尺校對用量桿的尺寸偏差和變動量
正確使用和注意事項
測量前應將測量面及被測件擦試干凈,等溫2H(20℃±5)
千分尺的零位調(diào)整
千分尺兩測量面與量塊接觸時,要使用測力裝置,不要轉(zhuǎn)動微分筒,以測力裝置的棘輪斷續(xù)響3聲讀數(shù)為準czy4583